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賽默飛FEI掃描電鏡配件耗材代理拔出極

  • 更新時(shí)間:  2024-06-13
  • 產(chǎn)品型號:  4035 273 12631
  • 簡(jiǎn)單描述
  • 4035 273 12631賽默飛FEI掃描電鏡配件耗材代理拔出極 Thermo Scientific Prisma E 掃描電鏡 (SEM) 結合了廣泛的成像和分析模式以及*自動(dòng)化功能,和同類(lèi)儀器相比,可提供最完整的解決方案。對于工業(yè)研發(fā)、質(zhì)量控制和失效分析應用領(lǐng)域,需要一臺具有高分辨成像,廣泛的樣品兼容性,簡(jiǎn)單易用的用戶(hù)界面的掃描電鏡,Prisma E是這類(lèi)應用的理想選擇。
詳細介紹

圣賓儀器科技(上海)有限公司是一家專(zhuān)注于分析檢測行業(yè)的系統性供應商,一直致力于分析測試技術(shù)方面進(jìn)口儀器的配件耗材供應,主要優(yōu)勢經(jīng)銷(xiāo)代理品牌:美國賽默飛世爾(ThermoFisher)原裝配件耗材(比如:ICP光譜,ICP-MS質(zhì)譜,AAS原子吸收光譜, GC-MS氣質(zhì),LC-MS液質(zhì),ARL直讀光譜ARL3460,ARL4460,ARLiSpark8820/8860/8880),9800/9900X熒光光譜,同位素質(zhì)譜,紅外光譜等儀器備件),珀金埃爾默(PerkinElmer)耗材,美國安捷倫(Agilent)耗材,美國沃特世(Waters)耗材,戴安(DIONEX)色譜耗材,島津(SHIMADZU)耗材,瑞士萬(wàn)通(Metrohm),CEM耗材等。

4035 273 12631賽默飛FEI掃描電鏡配件耗材代理拔出極

 

賽默飛FEL 部分配件耗材

16830 離子源

4035 273 12631   拔出極

4035 273 6 7441 光闌

4035 272 35991 抑制極

4035 272 35971  拔出極

1058129   拔出極

1301684  Suppressor 抑制極

1096659 Aperture 光闌

1346158  PT

 

環(huán)境掃描電鏡

Thermo Scientific Prisma E 掃描電鏡 (SEM) 結合了廣泛的成像和分析模式以及*自動(dòng)化功能,和同類(lèi)儀器相比,可提供最完整的解決方案。對于工業(yè)研發(fā)、質(zhì)量控制和失效分析應用領(lǐng)域,需要一臺具有高分辨成像,廣泛的樣品兼容性,簡(jiǎn)單易用的用戶(hù)界面的掃描電鏡,Prisma E是這類(lèi)應用的理想選擇。Prisma E是在前代Quanta SEM基礎上的又一次成功實(shí)踐。

 

全面的性能,強大的附近擴展能力,以及結合Thermo Scientific ChemiSEM 技術(shù)所實(shí)現最直觀(guān)的元素分析能力,使Prisma E在任何行業(yè)或領(lǐng)域都能夠實(shí)現微米/亞微米級成像和分析。

 4035 273 12631賽默飛FEI掃描電鏡配件耗材代理拔出極

主要特點(diǎn)

觸手可及的元素信息

通過(guò)選配 ChemiSEM 技術(shù)和集成能量色散 X 射線(xiàn)光譜 (EDS) 進(jìn)行實(shí)時(shí)成分面分布以實(shí)現直觀(guān)元素分析。這種始終在線(xiàn)的分析能力可極大提高您的工作效率,并獲取最完整的樣品信息。

出色的圖像質(zhì)量

靈活的真空模式以及通過(guò)透鏡抽真空技術(shù),使Prisma E可在低電壓和低真空下獲得出色的圖像質(zhì)量。且在每個(gè)操作模式下,都可實(shí)現二級電子 (SE) 和背散射電子 (BSE) 同時(shí)成像。

最大限度地減少樣品制備時(shí)間

低真空和 ESEM 功能可對非導電和/或含水樣品進(jìn)行無(wú)電荷/或無(wú)脫水成像和分析。

對自然狀態(tài)下的材料進(jìn)行原位研究

憑借 Prisma E 的環(huán)境 (ESEM) 模式、可在樣品加熱、放氣或潮濕的狀態(tài)下直接成像。

優(yōu)異的分析能力

倉室支持最多安裝3 個(gè) EDS 探測器,其中兩個(gè)EDS接口呈180° 對稱(chēng),并可安裝波長(cháng)色散光譜 (WDS)、共面 EDS/EBSD,并可在低真空模式下實(shí)現高質(zhì)量無(wú)電荷 EDS 和 EBSD 分析。

易于使用

操作軟件具有用戶(hù)指南和撤消功能,可以使新手用戶(hù)進(jìn)行高效的操作,也可極大減少專(zhuān)家級用戶(hù)的操作負荷。



規格

參數

· 分辨率在高真空、低真空和 ESEM 的 30 kV 下為 3.0 nm

·  3 kV(BSED、樣品臺減速)下為 7.0 nm

標準檢測器

· ETD、低真空 SED (LVD)、 ESEM SED (GSED)、紅外CCD

可選檢測器

· Thermo Scientific Nav-Cam+ 攝像機、DBS、DBS-GAD、ESEM-GAD、STEM 3+、WetSTEM、RGB-CLD、EDS、EBSD、WDS、拉曼、EBIC 等

ChemiSEM 技術(shù)(可選)

· 可基于能量色散 X 射線(xiàn)光譜 (EDS) 進(jìn)行實(shí)時(shí)定量 元素面分布。包含點(diǎn)分析、線(xiàn)掃描、面分布及元素定量。

樣品臺減速(可選)

· -4,000 V 至 +50 V

低真空模式

· 高達 2,600 Pa (H2O) 或 4,000 Pa (N2)

樣品臺

· 5軸馬達優(yōu)中心樣品臺,110 x 110 mm2,105° 傾斜范圍。最大樣品重量:未傾斜位置,5 kg。

標準樣品支架

· 標準多樣品 SEM 支架可單獨安裝

· 在載物臺上,可容納多達 18 個(gè)標準樣品托 (? 12 mm),

· 無(wú)需工具即可安裝樣品

樣品倉

· 340 mm 內寬,12 個(gè)接口,最多可接三個(gè) EDS 檢測器(兩個(gè)呈 180°對稱(chēng)),并具有與共面 EDS共面的EBSD接口。

原位配件(可選)

· 軟件控制的 -20°C 至 +60°C Peltier 冷臺

· 軟件控制的 1,000°C 低真空/ESEM 熱臺

· 軟件控制的 1,100°C 高真空熱臺

· 軟件控制的 1,400°C 低真空/ESEM 熱臺

· 集成氣體注入系統:用于下列材料的電子束誘導沉積,最多支持2種氣體(其他配件可能限制可用的注氣系統 (GIS) 數量):

· 納米機械手

· 液氮致冷臺

· 電子探針/多探針臺

 






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